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| 高低溫試驗(yàn)箱檢驗(yàn)方法總則 |
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| 時(shí)間：2013/11/21 8:07:37 |
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GB/T 5170的高低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)所用術(shù)語(yǔ)和定義、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)儀器、檢驗(yàn)周期、檢驗(yàn)負(fù)載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗(yàn)記錄表、檢驗(yàn)結(jié)果處理等要求，可適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備所用的檢驗(yàn)，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn)亦可參照使用。
適用于標(biāo)準(zhǔn)總則部分的術(shù)語(yǔ)和定義如下：
環(huán)境條件（environmental condition）:產(chǎn)品所經(jīng)受的周?chē)锢怼⒒瘜W(xué)和生物的條件；
環(huán)境參數(shù)（environmental parameters）:表示環(huán)境條件的一個(gè)或幾個(gè)物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù)；
綜合試驗(yàn)設(shè)備（combined testing equipments）：能同時(shí)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的高低溫試驗(yàn)箱；
組合試驗(yàn)設(shè)備（commpsite testing equipments）:能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備；
標(biāo)稱(chēng)值（nominal value）:當(dāng)檢驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，按試驗(yàn)方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值；
特定負(fù)載（specified load）：利用試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)的樣品；
模擬負(fù)載（simulation load）:根據(jù)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定制造的負(fù)載（注：應(yīng)考慮質(zhì)量、幾何尺寸、迎風(fēng)面積及熱容量等因素）； |
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